冷熱沖擊試驗(yàn)箱用來檢測產(chǎn)品的材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料的，在瞬間下經(jīng)*溫和極低溫的連續(xù)環(huán)境下所忍受的程度，借以在短時間內(nèi)試驗(yàn)其熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化和物理傷害。1．冷凍系統(tǒng)采用壓縮機(jī)優(yōu)化設(shè)計(jì)組合，運(yùn)行噪聲更低，性能更*,穩(wěn)定可靠。2．冷熱沖擊試驗(yàn)箱控制器自動需求量調(diào)節(jié)冷卻回路，確保壓縮機(jī)正常吸排氣溫度，提高壓縮機(jī)壽命。3．控制制冷系統(tǒng)采用全新冷媒需求量算法，能合理有效地利用制冷量，有效減少冷熱互耗，從而達(dá)到控制穩(wěn)定及節(jié)能功效。4.冷熱沖擊試驗(yàn)箱采用靜平衡技術(shù)即“制冷過程不制熱”和“...

鹽霧試驗(yàn)箱試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)及高天特色鹽霧試驗(yàn)箱用于檢測產(chǎn)品在鹽霧環(huán)境下性能的穩(wěn)定性，因?yàn)闊o論是金屬產(chǎn)品還是非金屬產(chǎn)品，由于自然界空氣中含有水分及鹽分（無機(jī)鹽等）而產(chǎn)生腐蝕，從而導(dǎo)致性能改變，比如金屬銹蝕、電路板腐蝕等。同種產(chǎn)品采用哪種鹽霧試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)要根據(jù)鹽霧試驗(yàn)的特性和金屬的腐蝕速度及對鹽霧的敏感程度選擇。下面介紹幾個鹽霧試驗(yàn)箱標(biāo)準(zhǔn):1.GB/T2423.17—2008《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Ka：鹽霧試驗(yàn)方法》2.GB/T2423.18—2000《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部...

高低溫沖擊試驗(yàn)機(jī)的機(jī)械結(jié)構(gòu)：1.本系統(tǒng)符合冷熱沖擊之可靠度試驗(yàn)規(guī)格。（CNS，MIL，IEC，JIS，ISO,ASTM,DIN,BS,UL,NACE,…）2.測試樣品置于盤架，藉由氣壓缸直線驅(qū)動蓄熱區(qū)或蓄冷區(qū)之閥門，以動作需要打開DAMPER，引導(dǎo)冷熱氣流導(dǎo)入測試箱內(nèi)，而達(dá)到快速冷熱沖擊之效果，平衡調(diào)溫控制系統(tǒng)（TBHC）+特殊設(shè)計(jì)送風(fēng)循環(huán)系統(tǒng)，以P.I.D.方式控制S.S.R.,使系統(tǒng)之加熱量等于熱損耗量,故能長期穩(wěn)定的使用.3.采特殊設(shè)計(jì),節(jié)省空間且操作高度適中,維修保養(yǎng)...

高壓加速老化試驗(yàn)機(jī)概述高壓加速老化試驗(yàn)又名PCT試驗(yàn)，一般稱為壓力鍋蒸煮試驗(yàn)或是飽和蒸汽試驗(yàn)，zui主要是將待測品置于嚴(yán)苛之溫度、飽和(R.H)飽和水蒸氣及壓力環(huán)境下測試，測試代測品耐高濕能力，針對印刷線路板(PCB&FPC)，用來進(jìn)行材料吸濕率試驗(yàn)、高壓蒸煮試驗(yàn)等試驗(yàn)?zāi)康?，如果待測品是半導(dǎo)體的話，則用來測試半導(dǎo)體封裝之抗?jié)駳饽芰?，待測品被放置嚴(yán)苛的溫以及壓力環(huán)境下測試，如果半導(dǎo)體封裝的不好，濕氣會沿者膠體或膠體與導(dǎo)線架之接口滲入封裝體之中，常見的故裝原因：爆米花效應(yīng)、動金屬...

紫外光耐氣候試驗(yàn)機(jī)產(chǎn)品用途及工作原理1.1產(chǎn)品用途本產(chǎn)品采用能準(zhǔn)確模擬陽光中UV段光譜的熒光紫外燈，并結(jié)合控溫、供濕等裝置來模擬對材料造成變色、亮度、強(qiáng)度下降；開裂、剝落、粉化、氧化等損害的陽光（UV段）高溫、高濕、凝露、黑暗周期等因素，同時通過紫外光與濕氣之間的協(xié)同作用使得材料單一耐光能力或單一耐濕能力減弱或失效，從而廣泛用于對材料耐氣候性能的評價。1.2工作原理本試驗(yàn)機(jī)采用熒光紫外燈為光源，通過模擬自然陽光中的紫外輻射和夜間降溫結(jié)露及淋雨，對材料進(jìn)行加速耐候性試驗(yàn)，以獲得...